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采购项目名称:8英寸手动探针台
采购项目编号:清采比选20252306号
公告开始时间:*开通会员可解锁* 10:40:31
公告截止时间:*开通会员可解锁* 11:00:00
对外联系人:
联系电话:
签约时间要求:成交后5个工作日内 (如不按时签订合同,采购单位有权取消或变更采购结果)
交货时间要求:签订合同后3个工作日内
采购单位:清华大学
最高限价:
国内合同付款方式:合同签订后50%,验收合格后50%
交货地址:北京市清华大学
供应商特殊资质要求:
物资名称:8英寸手动探针台
采购数量:1.0
计量单位:套
质保期:12个月
技术参数及配置要求
1. 台体: ① 尺寸: ≤750mm长×700mm宽×700mm高; ② 探针平台具备旋钮快速升降手柄(提供实机照片),并且调节档位不少于两档,粗调优于3mm和微调优于300μm,探针平台可以上下微调,行程≥30mm,升降精度≤1µm; 2. 样品台及温控系统: ① 直径不小于8英寸,平整度≤±10µm; ② X-Y-Z轴行程:≥200mm×200mm×40mm,每个轴都带有自锁功能;R轴旋转行程为≥±45°,卡盘角度可旋转微调,调节精度优于0.002°; ③ Chuck采用气控式卡盘移动技术,气浮具备快速移动功能, X轴可单独移动,Y轴可单独移动,XY轴可同步移动,XY轴可同时锁死; ④ 具备微调移动模式,卡盘X/Y轴为无间隙移动,移动精度优于1µm; ⑤ 真空吸附方式具备中心吸附孔和外围多孔吸附,具有8、6、4、2英寸以及中心真空吸附孔,采用独立控制方式;并配有AS-568 O型圈至少两根,全氟复合材料:8575,尺寸329.79×3.53mm。 ⑥ 卡盘三轴结构,带顶板层,防护层和接地屏蔽层;卡盘顶板层的电学独立悬空,具备背电极接口;卡盘漏电流≤300fA@10V@25℃;(提供实测设备卡盘漏电测试数据图);卡盘具备加热功能,温度范围为室温~300℃,温度设置和显示分辨率优于0.1℃; ⑦ 温度稳定性:优于±0.1℃,温度均匀性:室温~100℃ <±0.5℃;100℃~150℃:±0.75%;150℃~200℃:±1% ; 200℃~300℃:±2℃;(提供温度均匀性实测数据报告) ⑧ 卡盘温度升降温时间:室温~200℃: 不大于25 min;200~300℃: 不大于20 min;300℃~室温: 不大于50 min; ⑨ 卡盘温控系统可触摸屏控制,可编程控制升温,带通信接口,有温度补偿功能,可以精确显示Chuck 表面真实温度,可编入集成测试软件系统; ⑩ 配有水冷机和管路,用于卡盘的降温和卡盘与卡盘安装底座间的温度隔离; 3. 光学系统:配备光学显微镜,CCD相机,21英寸及以上高清显示器 ① 可调节显微镜XY轴移动范围不小于2 inch × 2 inch,精度优于1微米;显微镜Z轴可气动升降大于等于50mm; ② 目镜倍率不小于20倍,总的放大倍率范围优于16倍~100倍,带环形LED光源; ③ 配有显微镜调焦机构:Z 轴移动行程 不小于50mm; ④ 具备CCD接口; ⑤ 具备HDMI接口,高清1/2英寸CCD相机,分辨率优于1920×1080(1080p),帧率优于60fps,带SD卡可存储无压缩BMP格式图片,带HDMI视频线缆,3米长; ⑥ 配置21英寸及以上高清显示器,带HDMI 和 VGA接口; 4. 直流探针座及针座平台: ① 探针座尺寸不大于115mm长×115mm宽×115mm高; ② 探针座X-Y-Z 方向的移动行程分别为≥14mm,移动分辨率优于0.6μm/°,线性移动,磁力吸附,带开关,针座螺纹间距100 TPI及以下,数量不少于5套; ③ 配有开尔文探针夹具,带两个独立的SSMC公接头,漏电流优于100fA/10V @25℃,数量不少于 4套; ④ 配有开尔文探针夹具安装转接块,数量不少于 4套; ⑤ 配有开尔文探针夹具使用同轴探针(针尖直径不大于5μm),数量不少于 1套; ⑥ 配有开尔文探针夹具使用线缆(每套含两根线)接头形式为SSMC母转三轴接头公,漏电流优于100fA/10V @25℃,数量不少于 4套; ⑦ 探针平台升降调节功能可加装探针卡,针卡可重新定位; 5. 配备屏蔽箱,具有开门结构,空气弹簧结构,带接地端子,左右两侧有转接头安装板,每侧不少于8个孔位;后部有隐蔽型线缆出口;屏蔽箱独立于防震平台设计; 6. 配备防震桌:固有频率<1.5Hz~3Hz,同负载和实际使用情况相关;平面度:0.02~0.05mm/600mm×600mm;台面加支架总高度低于800mm,总高度可调范围优于-10~+15mm; 7. 配备探针电学测试系统:NAS网络存储数据备份模块,不少于四核心四盘位,配备不少于2块8TB硬盘;配备数据处理模块:显示屏不小于14英寸、处理器不低于M5(10+10核)、内存不低于24G、存储容量不低于1T固态; 8. 配备射频磁吸针座含针臂(针对以下技术参数提供原厂测试报告): ① 配置左、右手系射频针座各不少于1支; ② XYZ行程不小于12.5mm/12.5mm/12.5mm。特征分辨率<1μm,丝杆周圈分辨率优于250μm; ③ Theta轴调节范围±5°,Footprint尺寸不大于90mm×60mm,磁吸或真空方式; ④ 针座侧板具有阵列丝孔位置,方便调整探针的Z方向安装高度; ⑤ 针座具备高精度交叉滚子轴承设计方案,三个方向独立性稳定可靠性; ⑥ 具备过行程保护机制避免针座锁止产生应变,破坏精度; ⑦ 满足晶圆级射频测试,具备直流混合多触点测试功能。 9. 配备超高频DC至67GHz波段共面波导探针(针对以下技术参数提供原厂测试报告): ① 配备超高频波段共面波导探针,频率范围DC-67GHz,探针同轴接口1.85mm(Female),45°斜角或者90°直角可以根据电缆灵活选配。 ② 插入损耗<2.0dB@65GHz@100-250μm Pitch; ③ 针尖结构与Pitch间距:GSG、150μm和100μm; ④ 探针承受温度范围-65℃-200℃;最大DC电压/电流:200V、5A;承载最大射频功率30W@2GHz,承载最大射频功率8W@10GHz; ⑤ Rc接触电阻典型值<100mΩ(AL); ⑥ 寿命>500万次@Au Pad;可测试最小Pad尺寸:80μm×80μm; ⑦ 数量:Pitch 150μm规格2支,Pitch 100μm规格1支; 10. 配备超高频DC至67GHz波段校准片(针对以下技术参数提供原厂测试报告): ① 校准片支持Pitch 100-250μm 间距67GHz及以下频率探针校准,支持SOLT、SOLR、LRRM、LRM、TRL、Multi-Line TRL等校准算法; ② 包含不少于40组GSG校准图案,每组含有Load、Short、Thru图案,且50Ω Load直流电阻的精度≤±0.3%,另外含有不少于8个OPEN图案; ③ 校准基片除了校准的图案外,还需携带不少于5组10条验证延迟线, 分别为3.0ps、7ps、14ps、27ps、40ps,可用于校准质量验证以及支持TRL等校准算法; ④ 校准片上包括探针对准Align Mark的图案,以提升扎针效率和质量; ⑤ 数量:不少于1片 11. 配备探针接触调水平片 ① 配置接触调水平片不少于1片,用于调整射频探针针尖的共面性; ② 基板尺寸近似15mm×22mm,陶瓷材质,表面镀金。 12. 配备高稳定性裸纤光针及支架 ① 配置多模带lens透镜光波探针及裸纤探针各一套。 ② 波长范围850nm-1550nm,插入损耗<0.5dB; ③ 尾纤接口FC/APC; ④ 裸纤针规格可以根据需求进行更换,可选单模/多模、LENS/斜面针尖; ⑤ 具备找光效率高优势,便于快速定位。针臂与铰合支点齐平,且肘臂旋转到最低位置时,裸光纤头与竖直方向≤9°; ⑥ 尾纤固定在刀架肘臂槽内,且光纤针尖露出肘臂距离可调; ⑦ 具备手动单纤耦合模式。 13. 配备射频线缆(针对以下技术参数提供原厂测试报告): ① 射频频率:DC至67G; ② 阻抗:≤50Ω; ③ 插入损耗:≤3.7 dB; ④ 回波损耗:≥12.7 dB to DC - 67GHz; ⑤ 接口方式:1.85mm,一端为公头一端为母头; ⑥ 相位稳定性与挠曲:≤12º@50GHz; ⑦ 振幅稳定性与挠曲:≤±0.15dB@50GHz; ⑧ 线缆长度:不少于900mm,线缆整体均带铠甲,数量不少于2条; 14. 配备原厂半自动控制软件,并提供芯片测量和晶圆图形创建、测试结果分bin显示、多针编辑、晶圆图形文件导入、测试仪器参数修改和数据保存管理等实机演示操作视频; 15. 提供原厂射频测试校准软件,支持SOL、SOLT、SOLR、LRM等不同校准方法; 16. 如有部分配件为进口产品,需提供原厂授权证书; 17. 设备台体与卡盘为同一厂商(提供品牌证明); 18. 提供厂家售后服务承诺书(盖单位公章); 19. 提交附带详细配置清单的报价单(盖单位公章)。 20. 合同签订后20日内到货。