A02110204半导体器件参数测量仪

南京大学拟采购半导体材料器件光电综合表征系统一套。主要采购需求如下：（1）具备皮秒级时间分辨能力，支持超快动力学过程测量；（2）检测器需覆盖紫外至近红外波段，并具有高量子效率；（3）具备微米级空间分辨率成像能力，可实现器件性能参数的二维分布可视化；（4）系统集成高功率飞秒激光器及可调谐LED面光源，能满足多种激发条件需求；（5）能够完成包括真实J-V、Suns-PL、Pseudo J-V等电学参数测试，PL/EL光谱、强度、寿命成像以及iVoc、PCE、FF、Rs、Rsh、PLQY、QFLS等关键性能参数的测量与成像分析；（6）其它要求：需符合激光安全标准；（7）质保期：自验收后一年以上。